IGBT 模塊是由 IGBT 和 FWD 通過(guò)特定的電路橋封裝而成的模塊化半導(dǎo)體產(chǎn)品。封裝的 IGBT 模塊直接應(yīng)用于混頻器、 UPS 不間斷電源等設(shè)備。最常見(jiàn)的缺陷是氣隙和鍵合損失，這可以檢測(cè)焊料使用 X 射線檢測(cè)設(shè)備。其他常見(jiàn)缺陷，如陶瓷筏翹曲或傾斜，焊料在芯片下的氣孔，可以很容易地檢測(cè)到 XRAY檢測(cè)設(shè)備。

鑄造是機(jī)械工業(yè)的基礎(chǔ)行業(yè)，是將金屬熔煉成符合一定要求的液體并澆進(jìn)鑄型里，經(jīng)冷卻凝固、清整處理后得到有預(yù)定形狀、尺寸和性能的鑄件的工藝過(guò)程。進(jìn)入20世紀(jì)，鑄造迅速發(fā)展，一方面是產(chǎn)品技術(shù)的進(jìn)步，對(duì)鑄件各種機(jī)...

封裝的目的就是保護(hù)電路芯片不受周圍環(huán)境（包括物理和化學(xué)影響）的影響，在我們生產(chǎn)芯片的過(guò)程中，空氣中的雜質(zhì)，氣體，水份等物質(zhì)都會(huì)對(duì)芯片造成不小的影響，因此為了避免芯片質(zhì)量受到影響，芯片都需要進(jìn)行封裝，避...

無(wú)損檢測(cè)簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)就是在不破壞產(chǎn)品原有屬性的情況下進(jìn)行檢測(cè) ，如我們檢測(cè)手機(jī)電池，我們不需要把手機(jī)拆開(kāi)，通過(guò)無(wú)損檢測(cè)設(shè)備如XRAY無(wú)損檢測(cè)設(shè)備，我們就能透視看里面手機(jī)的情況，其具體需要看到手里面的的缺陷大小...

x光檢查機(jī)的軟件系統(tǒng)具有強(qiáng)大的圖像處理功能，能夠精準(zhǔn)測(cè)量、比較圖像等，對(duì)肉眼、在線測(cè)試等無(wú)法檢查到的區(qū)域進(jìn)行檢查。根據(jù)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)顯示，在可測(cè)范圍內(nèi)，x光檢查機(jī)故障檢出率在95%以上。在SMT制程中，x光檢查機(jī)實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)主要用于檢測(cè)BGA、CSP、FLIP和CHIP等封裝的焊點(diǎn)，焊點(diǎn)內(nèi)部的品質(zhì)是產(chǎn)品長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行的保障，焊點(diǎn)...

?X光無(wú)損檢測(cè)設(shè)備主要通過(guò)X-RAY發(fā)生器發(fā)出X射線穿透電池內(nèi)部，由成像系統(tǒng)接收X射線成像和拍照，借助相關(guān)軟件對(duì)圖像進(jìn)行處理并自動(dòng)測(cè)量和判斷，確定良品和不良品，并將不良品挑選出來(lái)，設(shè)備前后端可與產(chǎn)線對(duì)接。那么，X光無(wú)損檢測(cè)設(shè)備是如何找出電子產(chǎn)品缺陷實(shí)現(xiàn)“零缺陷”的目標(biāo)的呢？今天就以X光無(wú)損檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)半導(dǎo)體芯...

x射線無(wú)損探傷機(jī)具有一套X-RAY成像系統(tǒng)，分為2D檢測(cè)和2.5D檢測(cè)，是一種X射線工業(yè)產(chǎn)品無(wú)損檢測(cè)裝置。通過(guò)高速電子轟擊陽(yáng)極靶產(chǎn)生X射線，透照被檢的部件，并在成像裝置上得到部件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像，快速精準(zhǔn)判斷被檢部件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)缺陷。

為了更能全面進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，XRAY檢測(cè)設(shè)備已逐漸成為多數(shù)廠家的首選。XRAY檢測(cè)設(shè)備通過(guò)X-ray發(fā)生器發(fā)出X射線，穿透分立元器件的內(nèi)部，全面實(shí)現(xiàn)無(wú)損檢測(cè)。再通過(guò)平板探測(cè)器接收X射線進(jìn)行成像，高清記錄分立器件的缺陷問(wèn)題。最后，圖像算法對(duì)圖像進(jìn)行分析、判斷，確定良品與不良品，并通過(guò)復(fù)盤(pán)功能，確定芯片在料盤(pán)中的序號(hào)，...

我們也會(huì)使用XRAY無(wú)損檢測(cè)設(shè)備來(lái)檢測(cè)焊點(diǎn)品質(zhì)，通過(guò)增強(qiáng)X光還可以提供焊點(diǎn)結(jié)構(gòu)的定點(diǎn)測(cè)量，在檢測(cè)效率上也能夠迅速識(shí)別各種質(zhì)量方面的問(wèn)題。同時(shí)能夠及時(shí)成像，且可以長(zhǎng)期保存，從而使射線照相法成為各種無(wú)損檢測(cè)方法記錄真實(shí)、直觀、全面、追蹤性的檢測(cè)方法。