IGBT芯片空洞率檢測(cè)-X-RAY檢測(cè)設(shè)備
IGBT芯片空洞率可以實(shí)現(xiàn)檢測(cè),成像效果清晰分辨;隨著射線源功率的提升,整體圖像的灰度范圍增大,細(xì)節(jié)更加明顯。
2022-09-26
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全球領(lǐng)先的某半導(dǎo)體制造商采購(gòu)X-RAY檢測(cè)設(shè)備
全球領(lǐng)先的某半導(dǎo)體制造商采購(gòu)X-RAY檢測(cè)設(shè)備
2022-09-24
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半導(dǎo)體XRAY檢測(cè)設(shè)備在IC芯片上的檢測(cè)
半導(dǎo)體XRAY檢測(cè)設(shè)備在IC芯片上的檢測(cè)
2022-08-10
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