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絕緣柵雙極型晶體管是如何檢測IGBT缺陷的?
分類:公司動態(tài)
發(fā)布時間:2023-02-09
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絕緣柵雙極晶體管IGBT是強電流、高壓應用和快速終端設備用垂直功率MOSFET的自然進化,因綜合了電力晶體管GTR和電力場效應晶體管MOSFET的優(yōu)點,具有良好的特性,廣泛應用于電子制造行業(yè)。IGBT的應用范圍一般都在耐壓600V以上、電流10A以上、頻率為1kHz以上的區(qū),主要在工業(yè)用電機、民用小容量電機、變換器(逆變器)、照相機的頻閃觀測器、感應加熱、電飯鍋等領域使用。


IGBT在生產(chǎn)制造過程中不可避免會出現(xiàn)各種類型故障,如元器件內(nèi)部的裂紋、空洞、夾渣、封裝貼片產(chǎn)生分層、虛焊、空洞、氣泡等,這些缺陷光憑人工目檢是很難檢測出來的,必須需要用到專業(yè)的檢測設備。為了保證生產(chǎn)線的正常運作,產(chǎn)成品的高效穩(wěn)定輸出,那些有用到IGBT元器件進行生產(chǎn)的企業(yè)用到的是一種精準快速,且不會對IGBT元器件進行破壞的檢測方法——x射線無損檢測技術。


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在半導體封裝檢測領域,會用到x射線無損檢測儀進行檢測,利用的是X射線成像原理。X射線在穿透物體的過程中會與物質(zhì)發(fā)生相互作用,因吸收和散射而使其強度減弱,強度衰減程度于物質(zhì)的厚度相關,如果被透照物體的局部存在缺陷,透過該局部區(qū)域的x射線強度與周圍不同。正業(yè)科技全自動X射線無損檢測儀XG5500就是用來檢測IGBT缺陷的,X-RAY發(fā)生器發(fā)出X射線,射線會穿透IGBT內(nèi)部,成像系統(tǒng)接收X射線成像和拍照,緊接著軟件處理圖像、自動測量和判斷缺陷,確定良品和不良品,并將不良品挑選出來,產(chǎn)品優(yōu)率達99.5%以上,是檢測IGBT缺陷的不二之選。




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